美國TSI公司于2016年8月12-14日，參加了在四川省成都市舉辦的“中國顆粒學會第九屆學術(shù)年會暨海峽兩岸顆粒技術(shù)研討會”。本屆會議由中國顆粒學會主辦、中國顆粒學會超顆粒專委會協(xié)辦，500多位來自海峽兩岸從事顆粒技術(shù)研究的專家學者、工程技術(shù)人員、企業(yè)界代表等齊聚一堂，暢談國內(nèi)外顆粒學研究與技術(shù)的最新進展，探討顆粒行業(yè)產(chǎn)、學、研、銷等領(lǐng)域如何更好對接。

 

美國TSI公司于會上針對“1nm大氣顆粒物的測量”做了主題報告，并展示了以下多種氣溶膠檢測技術(shù)和設(shè)備。

 

1、TSI最新推出的SMPS™ 掃描電遷移粒徑譜儀，被廣泛用于測量1微米以下的氣溶膠粒徑分布的測量標準。選配3777型納米增強儀以及3086型DMA差分電遷移分析儀（1nm-DMA）組件后，SMPS粒徑譜儀能夠測量納米的粒徑范圍擴展至1nm。

2、3321 空氣動力學粒徑譜儀(APS™) 提供0.5 至 20 微米粒徑范圍粒子的高分辨率、實時空氣動力學檢測。這些獨特的粒徑分析儀還檢測0.37 至 20 微米粒徑范圍粒子的光散射強度。APS 粒徑譜儀通過向同一粒子提供成對數(shù)據(jù)向有興趣研究氣溶膠組成的人士開辟了令人振奮的新途徑。

3、TSI 3330型光學顆粒物粒徑譜儀簡單輕便，能夠?qū)︻w粒物濃度和粒徑譜分布進行快速和準確的測量。基于TSI公司40年氣溶膠儀器設(shè)計的經(jīng)驗，本款產(chǎn)品使用120度光散射角收集散射光強度和精密的電子處理系統(tǒng)，從而得到高質(zhì)量和高精度的數(shù)據(jù)。同時，TSI工廠嚴格的標定標準也確保儀器的精確性。該產(chǎn)品是廣大環(huán)境研究機構(gòu)和環(huán)境監(jiān)測部門進行顆粒物監(jiān)測分析和源解析的最佳儀器。

 

 

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